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... Übersicht
Metrologische Genauigkeit bei Produktionsgeschwindigkeit durch Multi‑Reflection Suppression® (MRS®) Sensortechnologie, die Reflexionen von glänzenden Bauteilen und Lötstellen identifiziert und unterdrückt. Erhältlich als SQ3000‑DD ...
Nordson EFD
... Überblick
Die AMI AW C-SAM® Serie ist ein automatisiertes Wafer-
Inspektionssystem, das nicht-immersives Ultraschall-Scanning mit Waterfall-Transducern und einem 500 MHz Impulsgeber/Empfänger nutzt. Es erreicht eine Empfindlichkeit ...
Nordson EFD
... Überblick
FACTS² (AMI DF2400) ist ein automatisiertes Inline-C‑SAM-
Inspektionssystem für die Großserienproduktion. Es ermöglicht die gleichzeitige Inspektion von zwei Trays/Modulen und nutzt mehrere Scanköpfe mit Linearmotorantrieben ...
Nordson EFD
... Übersicht
Die 2D‑AOI‑
Inspektionssysteme der QX‑Serie (QX600™ und QX250i™) bieten kalibrierungsfreie, hochdurchsatzfähige optische Inspektion für SMT‑Produktionslinien. Die Plattform kombiniert ober‑ und unterseitige Strobed ...
Nordson EFD
... Produktübersicht
Das FX-940UV ist ein automatisiertes AOI‑System zur Inspektion von Conformal Coatings, die unter UV sichtbar werden. Es nutzt proprietäre Algorithmen und UV‑optimierte Beleuchtung, um Abdeckung, Konsistenz und Dicke auf Leiterplatten ...
Nordson EFD
... Überblick
Das Multifunktionssystem SQ7000™+ nutzt die Multi-Reflection Suppression® (MRS®) Sensortechnologie und bietet hochauflösende 3D-Bildgebung, Hochgeschwindigkeitsinspektion und Metrologie auf einer einzigen Inline-Plattform, die AOI, ...
Nordson EFD
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