Das SIM (Strobed Inspection Module) ist der Kern aller 2D AOI-Systeme von CyberOptics. Einzigartig von CyberOptics entworfen und hergestellt, führt das SIM Hochleistungsinspektionen bei 110 cm²/sec durch, ohne dass eine Kalibrierung erforderlich ist. Der QX250i, ausgestattet mit AI² (Autonomous Image Interpretation) Technologie, ermöglicht eine ultraschnelle Programmierung und bringt Sie in weniger als 13 Minuten* von Null zur Produktionsbereitschaft. Mit einem 80-Megapixel-Sensor verbessert der QX250i™ die Inspektionsleistung von Lötstellen und 01005 erheblich.
Die 2D AOI-Inspektionssysteme der QX-Serie bieten schnelle, flexible und leistungsstarke Inspektionen für alle Anwendungen, optimiert für Vor-Reflow- und selektive Inspektionen. Hochauflösende Strobed Inspection Modules (SIM) mit verbesserter Beleuchtung bieten eine einzigartige Plattform für Inspektions- und Fehlerüberprüfungsprozesse, verkürzen die Produktionslinie und steigern die Produktivität um bis zu 50%.
- SIM (Strobed Inspection Module) von CyberOptics entworfen
- Hochleistungsinspektion bei 110 cm²/sec
- Kalibrierungsfreies System
- AI²-Technologie für ultraschnelle Programmierung
- Von Null zur Produktion in weniger als 13 Minuten*
- 80-Megapixel-Sensor (QX250i™)
- Erhebliche Verbesserung der Inspektion von Lötstellen und 01005
- Optimiert für Vor-Reflow- und selektive Inspektionen
- Verbesserte Beleuchtung für obere und untere Inspektion
- Produktivitätssteigerung um bis zu 50%