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... Übersicht
Metrologische Genauigkeit bei Produktionsgeschwindigkeit durch Multi‑Reflection Suppression® (MRS®) Sensortechnologie, die Reflexionen von glänzenden Bauteilen und Lötstellen identifiziert und unterdrückt. Erhältlich als SQ3000‑DD ...
Nordson EFD
... Überblick
Die AMI AW C-SAM® Serie ist ein automatisiertes Wafer-
Inspektionssystem, das nicht-immersives Ultraschall-Scanning mit Waterfall-Transducern und einem 500 MHz Impulsgeber/Empfänger nutzt. Es erreicht eine Empfindlichkeit ...
Nordson EFD
... Überblick
FACTS² (AMI DF2400) ist ein automatisiertes Inline-C‑SAM-
Inspektionssystem für die Großserienproduktion. Es ermöglicht die gleichzeitige Inspektion von zwei Trays/Modulen und nutzt mehrere Scanköpfe mit Linearmotorantrieben ...
Nordson EFD
... Übersicht
Die 2D‑AOI‑
Inspektionssysteme der QX‑Serie (QX600™ und QX250i™) bieten kalibrierungsfreie, hochdurchsatzfähige optische Inspektion für SMT‑Produktionslinien. Die Plattform kombiniert ober‑ und unterseitige Strobed ...
Nordson EFD
... Übersicht
Die SE3000‑DD™ und SE3000‑D™ sind 3D‑Solder‑Paste‑Inspection (SPI) Systeme auf Basis der SE3000 Plattform. Sie nutzen die Multi‑Reflection Suppression (MRS) Sensortechnologie zur Erkennung und Unterdrückung von Reflexionen an glänzenden ...
Nordson EFD
... Überblick
Das Multifunktionssystem SQ7000™+ nutzt die Multi-Reflection Suppression® (MRS®) Sensortechnologie und bietet hochauflösende 3D-Bildgebung, Hochgeschwindigkeitsinspektion und Metrologie auf einer einzigen Inline-Plattform, die AOI, ...
Nordson EFD
... Produktbeschreibung
Das SQ3000M2 ist ein automatisiertes optisches
Inspektionssystem (AOI) für Drahtbond-Anwendungen, Halbleitergehäuse und Leiterplattenmontage. Es bietet Inline-Fehlererkennung und optionale Metrologie zur ...
Nordson EFD
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