ProduktbeschreibungDas SQ3000M2 ist ein automatisiertes optisches Inspektionssystem (AOI) für Drahtbond-Anwendungen, Halbleitergehäuse und Leiterplattenmontage. Es bietet Inline-Fehlererkennung und optionale Metrologie zur Verbesserung von Ausbeuten, Prozessabläufen und zur Reduzierung von Rücksendungen.
Inspektionsfunktionen- Sichtfeld (FOV): 8,2 × 6,8 mm (1X)
- Auflösung: 3,4 µm (1X)
- Beleuchtung: Fusion Lighting™ Mehrwinkel-LED (proprietär)
- Bildgebung: 5-Megapixel-Farbkamera (2448 × 2048)
- Optik: Hohe Auflösung, geringe Verzerrung mit koaxialer Beleuchtung
- Metrologie: Optionales AFVM / FVM (Focus Variation Measurement) Modul
- Unterstützte Bauteiltypen: JEDEC, MCMs, Hybride, FlipChip, BGA, MicroBGA, MEMs, Waffle Pack
System - Technische DatenSystemabmessungen (B × T × H): 110 × 128 × 143 cm — Höhe ohne Signallichtmast und Nivellierfüße.
Gewicht: ≈ 965 kg (2127 lbs.).
Optionen- SPC-Software
- Barcode-Lesegeräte (1D/2D)
- Programmiersoftware: ePM-AI
- Offline-Fehlerprüfung
- Zertifizierungsziel
- CMM-Fähigkeit
- KI-Fähigkeit
- Sekundäroptiken (5X oder 10X)
- Tertiäroptik (0,5X)
Bildgebungs- und MessfunktionenDie Fusion Lighting™ Mehrwinkel-LED verbessert Defektkontraste bei komplexen Bauteilgeometrien. Standardmäßig 5 MP Farbbildgebung; optionales FVM-Metrologiemodul für Oberflächen- und Höhennachmessungen für kombinierte Inspektions-/Messabläufe.
Dokumentation & MedienProduktbroschüre und Demo-Videos sind verfügbar und zeigen Systemkonfiguration, Bedienung und Inspektionsergebnisse.
Caractéristiques / Spécifications techniques- Modell: SQ3000M2
- Typ: AOI (Automatisierte optische Inspektion)
- FOV: 8,2 × 6,8 mm
- Auflösung: 3,4 µm (1X)
- Bildsensor: 5 MP Farbe (2448 × 2048)
- Beleuchtung: Fusion Lighting™ Mehrwinkel-LED
- Optik: Hohe Auflösung, geringe Verzerrung; koaxiale Beleuchtung
- Metrologieoption: AFVM / FVM
- Geeignete Gerätetypen: JEDEC, MCMs, Hybride, FlipChip, BGA, MicroBGA, MEMs, Waffle Pack
- Abmessungen: 110 × 128 × 143 cm
- Gewicht: ≈ 965 kg
- Optionen: SPC, 1D/2D Barcode-Leser, ePM-AI, Offline-Fehlerprüfung, CMM, KI, Optiken 0,5X/5X/10X